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주요사양 |
범위/성능 |
Test Pin 설정 |
기본 384pin / 최대 4,096pin |
Relay Board |
Reed Relay 방식 |
Controller |
Pentium IV (정품) |
최대 PCB 크키 |
Fix 외장 : 460 * 260mm
STD 외장 : 420 * 320mm
Max 외장 : 575 * 370mm |
기구적 변경 여부 |
주문자 요구에 따른 변경이 가능합니다. |
Press Unit |
Test, Retest, Abort, Accept, Emergency |
Fixture Fix |
상판에 Clamp 장착 |
Safe Senser |
기본 장착 |
출력장치 |
LCD Monitor / Mini Printer(감광지) 장착 |
장비 무게 |
200Kg |
사용 공기 압력 |
5~6Kg |
공압 실린더 |
100￠ * 150mm |
사용 전원 |
100~240V / 50~60Hz / 300W |
온도 / 습도 |
각 부위에 FAN을
설치하여 일정한 온도 / 습도를 유지 시켜줍니다. |
Retest 기능 |
무한 가능합니다. |
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주요사양 |
범위/성능 |
| 운영 체제 |
Windows 98 / 2000 / Me / XP |
자가 진단 기능 |
시스템 Self-Test, Relay Board Test |
데이터 호환 |
Fixture Data(타사) 호환이 가능합니다. |
Auto Learning |
Short/Open, IC Clamping Diode, IC Lead
Open |
Networking Support |
NetworkStation |
Fail Report Graphic Display |
Yes |
Pin Search |
Yes |
Board View |
Gerber Data로 제작
상/하면, 회전, Zoom In/Out, 부품찾기 Display |
Report 기능 |
기간별 통계(일일/주간/월간) 및 히스토 그램 |
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1. 기본 검사
광범위(100Hz~1Mhz)한 주파수 대역폭을 사용하여 안정적으로 좀
더 많은 부품들을 올바르게 측정할 수 있습니다. |
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검사 품목 |
범위/성능 |
도움말 |
| Short / Open Test |
1ms / Point당 |
1000point를 1초에 가능합니다. |
Compoment Test |
0.6~30ms |
IC소자의 3000point는 2초에 가능합니다. |
Inductor Test |
0.2~40uh |
Coil의 실제값을 검사합니다. |
Zener Diode Test |
0.1~48V |
48V이상도 검사가 가능합니다. |
RC 병렬 Test |
가능 |
위상분해방식을 적용합니다. |
RL 병렬 Test |
가능 |
위상분해방식을 적용합니다. |
TR Test |
가능 |
오삽 / 역삽(pnp 시) |
전해 콘덴서 Test |
가능 |
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Diode 병렬 Test |
가능 |
순방향 병렬인 경우 |
탄탄 콘덴서 |
가능 |
역삽 |
기타 부품 |
가능 |
범용 부품 |
function Test |
기능 포함 |
PCB사양에 따라 변경됩니다. |
IC SCAN 기능 |
가능 |
IC Lead 사이의 Short/Open 및
IC 내부 회로 검사를 합니다. |
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검사
품목 |
범위/성능 |
도움말 |
| HP Testjet Test |
IC OPEN |
HP 기술을 적용합니다. |
X-Tal Test |
주파수값 측정 |
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IC
Rom Write |
IC ROM READ
/ WRITE / VERIFY |
| Board View |
불량 추적의 간편화 |
Marking System |
원하는 Board의 도장(표시) |
Bar Code |
측정 Board의 이력을 저장 |
NetWork System |
각 라인을 실시간으로 감시/기록 |
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