JET3000 PDU

JET3000 PDU

  • 4개의 독립적인 코어가 있는 JET3000은 4개의 모드까지 병렬로 테스트 가능하며, 회로 테스트 후 펑션 테스트를 동시에 진행 할 수 있습니다.
  • JET3000은 MDA 테스터에 비해 디자인이 개선되었으며, 디지털카드는 모든 PIN을 사용하고 프로그래밍 할 수 있습니다.
  • 정확한 광학 스케일로 프레스 다운 장치의 압착깊이는 다양한 픽스쳐의 피치에 맞춰서 세팅할수 있습니다.
  • 바운더리 스캔 장치 및 TESTJET 기술을 연동하여 스캐너를 연결하여 스캔을 사용하면 커넥터 및 NON-BSCAN 칩과 같은 구성요소를 추가 테스트 포인트 없이 테스트 가능합니다.
  • JET3000은 UF-680과 통합되어 더 많은 펑션 테스트 요구사항을 충족 시킬 수 있습니다.
  • Specifications
  • The One and Only Quad-Core In-Circuit Tester in the industy
  • The Integration of ICT and Functional Test
  • The Dual-stage Solution for Combined ICT and Functional Test
  • Connection Scanning







4개의 독립적인 코어가 있는 JET3000은 4개의 보드까지 병렬로 테스트 할 수 있습니다. 회로테스트 후 JET3000은 평션 테스트를 동시에 진행 할 수 있습니다.


따라서 한 장의 보드를 검사하는 시간에 4장의 보드가 검사가 가능하므로 생산속도가 400% 증가되는 장점이 있습니다.


더구나 JET3000은 ICT와 펑션 테스트를 한대의 설비로 테스트 할 수 있기 때문에 테스트 시간과 비용을 절감할 수 있습니다.

JET3000은 MDA 테스터에 비해 디자인이 개선되었습니다. 디지털카드는 모든 PIN을 사용하고 프로그래밍 할 수 있습니다.


디지털 기능의 새로운 기술을 통해서 ICT 테스트 단계에 펑션 테스트를 추가하여 더 높은 오류 커버리지를 달성할 수 있습니다.


게다가, 사용자 친화적 그래픽 인터페이스는 물론이고 프로그래밍 및 개발을 용이하도록 인터페이스를 개선했습니다.

정확한 광학 비율로 압착 프레스의 압착 깊이는 다양한 픽스쳐의 피치에 맞출 수 있습니다.


더욱이 절연 요구 사항을쉽게 충족시키기 위해 정적 테스트의 높이로 정적 ICT 테스트 및 동적 & 고압 펑션 테스트를 실행할 수 있습니다.

바운더리 스캔 장치 및 TESTJET 기술을 연동하여 스캐너를 연결하여 스캔을 사용하면 커넥터 및 NON-BSCAN 칩과 같은


성요소를 추가 테스트 포인트 없이 테스트 가능합니다.