제품소개
TS303
In-circuit tester
- 모든 PCB상의 전자부품을 측정하는 검사장비입니다.
- HARDWARE는 HP TEST JET과 NAND TREE TEST의 진보된 기술을 갖추고 있어 기존의 장비에서 검사하기 어려운 RC병렬회사, RL병렬회로, TR(PNP)역삽, 전해콘덴서 역삽, DIODE병렬, 탄탈콘덴서 역삽, 주파수등을 검사할 수 있습니다.
- 안정된 SOFTWARE를 갖추어 제품의 품질향상 및 생산관리능력을 극대화 할 수 있습니다.
- 제품특징
- 제품사양
제품특징
- - HP TESTJET TECHNOLOGY의 기술을 사용합니다.
- - INTEL사의 NAND TREE기술을 사용합니다.
- - IC SCAN 기능이 내장되어 있습니다. (세계 특허 등록)
- - 구입업체의 추가사양에 부합이 가능합니다.
제품활용
| 기능 | 활용 |
|---|---|
| PCB의 상태검사 | PCB ASS`Y에 실장된 부품의 용량, 미삽, 오삽, 역삽을 검사합니다. |
| 전해콘덴서의 역삽을 부위 부품에 영향을 주지 않고 검출합니다. | |
| PCB PATTERN 및 ASS`Y상의 SHORT/OPEN을 검사합니다. | |
| IC의 Lead Open 검사 | HP TESTJET 및 NAND TREE TEST 그리고 IC SCAN을 채용합니다. |
| Marking System 적용 | PCB 검사 후 양품과 불량품을 구분하는데 도움을 줍니다. |
| Bar Code 기능 | 한대의 스캐너로 ARRAY 된 PCB의 바코드 입력이 가능하며, 각 보드의 측정값이 바코드 별로 구분되어 저장됩니다. |
| DATA Trantiator | 타사의 FIXTURE DATA를 당사 장비에 사용할 수 있도록 전환 할 수 있습니다. |
| NetWork Station | ICT 검사 후 측정데이터가 ICT 장비 자체에 저장이 되며, 네트워크 상에 지정된 서버 혹은 폴더에 별도의 저장이 가능합니다. |
| IN-LINE System | TS303 설비를 IN-LINE SYSTEM으로 구성시 안정된 생산성을 추구 할 수 있습니다. |
| BOARD VIEW | 모니터로 불량 부위를 간편하게 확인 및 수정 할 수 있습니다. |
| Top Ten Failed LIST | 생산현장에서 공정개선을 위한 상위 10개의 불량부품을 모니터로 확인 할 수 있습니다. |
| REPORTS | 모든 PCB검사 DATA를 다양한 방식으로 모니터링 및 DATA BASE화 할 수 있습니다. |
| 인위적 온도설정 | SYSTEM의 온도를 설정하여 최적의 검사환경을 유지 하므로써 안정된 검사를 도와줍니다. |
Hardware
| 주요사양 | 범위/성능 |
|---|---|
| Test Pin 설정 | 기본 384pin / 최대 4,096pin |
| Relay Board | Reed Relay 방식 |
| Controller | Pentium IV (정품) |
| 최대 PCB 크키 | Fix 외장 : 460 * 260mm STD 외장 : 420 * 320mm Max 외장 : 575 * 370mm |
| 기구적 변경 여부 | 주문자 요구에 따른 변경이 가능합니다. |
| Press Unit | Test, Retest, Abort, Accept, Emergency |
| Fixture Fix | 상판에 Clamp 장착 |
| Safe Senser | 기본 장착 |
| 출력장치 | LCD Monitor / Mini Printer(감광지) 장착 |
| 장비 무게 | 200Kg |
| 사용 공기 압력 | 5~6Kg |
| 공압 실린더 | 100￠ * 150mm |
| 사용 전원 | 100~240V / 50~60Hz / 300W |
| 온도 / 습도 | 각 부위에 FAN을 설치하여 일정한 온도 / 습도를 유지 시켜줍니다. |
| Retest 기능 | 무한 가능합니다. |
Software
| 주요사양 | 범위/성능 |
|---|---|
| 운영 체제 | Windows 98 / 2000 / Me / XP |
| 자가 진단 기능 | 시스템 Self-Test, Relay Board Test |
| 데이터 호환 | Fixture Data(타사) 호환이 가능합니다. |
| Auto Learning | Short/Open, IC Clamping Diode, IC Lead Open |
| Networking Support | NetworkStation |
| Fail Report Graphic Display | Yes |
| Pin Search | Yes |
| Board View | Gerber Data로 제작 상/하면, 회전, Zoom In/Out, 부품찾기 Display |
| Report 기능 | 기간별 통계(일일/주간/월간) 및 히스토 그램 |
검사기능
[기본검사]
광범위(100Hz~1Mhz)한 주파수 대역폭을 사용하여 안정적으로 좀 더 많은 부품들을 올바르게 측정할 수 있습니다.
| 검사품목 | 범위/성능 | 도움말 |
|---|---|---|
| Short / Open Test | 1ms / Point당 | 1000point를 1초에 가능합니다. |
| Compoment Test | 0.6~30ms | IC소자의 3000point는 2초에 가능합니다. |
| Inductor Test | 0.2~40uh | Coil의 실제값을 검사합니다. |
| Zener Diode Test | 0.1~48V | 48V이상도 검사가 가능합니다. |
| RC 병렬 Test | 가능 | 위상분해방식을 적용합니다. |
| RL 병렬 Test | 가능 | 위상분해방식을 적용합니다. |
| TR Test | 가능 | 오삽 / 역삽(pnp 시) |
| 전해 콘덴서 Test | 가능 | 오삽 / 역삽(역삽핀 장착) |
| Diode 병렬 Test | 가능 | 순방향 병렬인 경우 |
| 탄탈 콘덴서 | 가능 | 역삽 |
| 기타 부품 | 가능 | 범용 부품 |
| function Test | 가능 포함 | PCB사양에 따라 변경됩니다. |
| IC SCAN 기능 | 가능 | IC Lead 사이의 Short/Open 및IC 내부 회로 검사를 합니다. |
[Option 검사 기능]
| 검사품목 | 범위/성능 | 도움말 |
|---|---|---|
| HP Testjet Test | IC OPEN | HP 기술을 적용합니다. |
| X-Tal Test | 주파수값 측정 |
Option 추가 기능
| IC Rom Write | IC ROM READ / WRITE / VERIFY |
|---|---|
| Board View | 불량 추적의 간편화 |
| Marking System | 원하는 Board의 도장(표시) |
| Bar Code | 측정 Board의 이력을 저장 |
| NetWork System | 각 라인을 실시간으로 감시/기록 |
